GB/T11374-2012熱噴涂涂層厚度的無損測(cè)量方法內(nèi)容是什么?百檢網(wǎng)檢測(cè)范圍廣泛，可根據(jù)客戶需求選擇合適的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目安排檢測(cè)，全國(guó)近千家合作實(shí)驗(yàn)室，CMA/CNAS資質(zhì)齊全，可就近安排寄樣檢測(cè)。今天百檢網(wǎng)就給大家簡(jiǎn)單介紹一下GB/T11374-2012熱噴涂涂層厚度的無損測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。

1.范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了熱噴涂涂層厚度測(cè)量的術(shù)語(yǔ)、測(cè)量方法的選擇、參比面的確定及局部厚度的測(cè)量。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有熱噴涂方法,包括火焰噴涂、電弧噴涂、等離子噴涂等所制備的各種磁性金屬基體上非磁性涂層和非磁性金屬基體上非導(dǎo)電涂層的厚度測(cè)量及評(píng)定。

2.規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件,凡是不注日期的引用文件，其*新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。

GB/T 4956 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

GB/T 4957 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法

GB/T 6463 金屬和其他無機(jī)覆蓋層厚度測(cè)量方法評(píng)選

GB/T 12334 金屬和其他有機(jī)覆蓋層 關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則

GB/T 18719 熱噴涂 術(shù)語(yǔ)、分笑

3.術(shù)語(yǔ)和準(zhǔn)義

GB/T 12334和GB/T 18719 界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。

3.1 主要表面 significant surface

工件上某些已涂覆或待涂覆覆蓋層的表面，在該表面上覆蓋層對(duì)其使用性能或外觀是至關(guān)重要的。

3.2 測(cè)量面 measuring area

作單次測(cè)量的主要表面區(qū)域。

無損法的測(cè)量面為與探頭接觸的區(qū)域或影響讀數(shù)的區(qū)域。

3.3 參比面 reference area

要求作規(guī)定次數(shù)單次測(cè)量的區(qū)域。

3.4 局部厚度 local thickness

在參比面內(nèi)進(jìn)行的規(guī)定次數(shù)厚度測(cè)量的平均值。

3.5 *小局部厚度 minimum local thickness

在單個(gè)工件的主要表面所測(cè)得的局部厚度中的*小值。

3.6 *大局部厚度 maximum local thickness

在單個(gè)工件的主要表面所測(cè)得的局部厚度中的*大值。

3.7 平均厚度 average thickness

在主要表面上均勻散布地進(jìn)行規(guī)定次數(shù)的局部厚度測(cè)量得到的平均值。

4.測(cè)量方法的選擇

4.1 測(cè)量方法的概述

測(cè)量方法應(yīng)根據(jù)基體材料與涂層材料是否具有磁性與導(dǎo)電性選擇測(cè)量方法(見GB/T 6463)。

4.2 磁性法

本方法適用于磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度測(cè)量,應(yīng)用任何熱噴涂工藝在磁性金屬基體上制備的非磁性涂層均可采用此種方法進(jìn)行無損測(cè)厚(見GB/T 4956)。

4.3 渦流法

本方法適用于非磁性金屬基體上非導(dǎo)電涂層的厚度測(cè)量,應(yīng)用任何熱噴涂工藝在非磁性金屬基體上制備的非導(dǎo)電涂層均可采用此種方法進(jìn)行無損測(cè)厚(見GB/T 4957)。

5.參比面的確定

5.1 參比面的大小

5.1.1 主要表面小于1cm2的試件

用于測(cè)量局部厚度的參比面應(yīng)是試件的整個(gè)主要表面。

5.1.2 主要表面大于1cm2的試件

用于測(cè)量局部厚度的每個(gè)參比面面積應(yīng)取1cm2(盡可能取邊長(zhǎng)1cm的正方形)。

5.1.3 主要表面大于1m2試件

用于測(cè)量局部厚度的每個(gè)參比面面積允許增大到1dm2。

5.2 參比面的個(gè)數(shù)與位置的確定

參比面?zhèn)€數(shù)的確定應(yīng)使參比面的總面積不小于主要表面面積的5%。參比面的位置應(yīng)均勻分布在整個(gè)主要表面上。

6.局部厚度的測(cè)量

6.1 局部厚度測(cè)量的點(diǎn)數(shù)

6.1.1 對(duì)主要表面<1cm2的試件,作1～3點(diǎn)測(cè)量。

6.1.2 對(duì)1cm2≤主要表面<1m2的試件,在選擇的參比面內(nèi)作3～5點(diǎn)測(cè)量。

6.1.3 對(duì)主要表面≥1m2的試件,選擇的參比面1dm2時(shí),作9點(diǎn)10次測(cè)量,第1次與第10次測(cè)量點(diǎn)重合。

6.2 測(cè)量點(diǎn)的分布如下圖:

…………

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